扫描穿遂显微镜可以量测「金属固体」(良导体)表面

使用硅晶圆或奈米碳管(CNT)製作成针尖小于100nm(奈米)的奈米尖端，当奈米尖端由「金属固体」表面扫过时，尖端接触「金属」表面会导电，利用导电的大小来控尖端随物体表面高低起伏而上下移动，可以量测「金属固体」(良导体)表面。将尖端上下移动情形记录下来，并且利用电脑模拟物体表面三维高低起伏而绘出相对应的三维图形。扫描穿遂显微镜(STM)的解析度与奈米尖端的尺寸有关，可以用来观察大约1nm(奈米)的结构,体视显微镜，因此可以看到由电脑模拟的原子影像。

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