TEM穿透式电子显微镜应用简介
 

专业的穿透式电子显微镜(TEM)分析技术，包括各种材料试片制备

穿透式电子显微镜可应用于材料之表面型态分析、结晶结构分析以及材料成分的分析，并可提供原,子影像观察，可分析单晶与多晶结构之各种缺陷与鉴定其缺陷种类。

当电子束通过试片时，侦测器可侦测微区特性X-ray及其衍生出的光谱，并利用此光谱来分析未知的材料的化学成分，可提供快速而有力的材料分析。

TEM服务应用有哪些:

    微细结构分析(晶格影像)
    结晶缺陷分析
    元素成分分析
    电子绕射图分析
    薄膜及厚度分析
    杂质及汙染源分析