扫描穿遂显微镜(STM：Scanning Tunneling Microscopy)

使用矽晶圆或纳米碳管(CNT)制作成针尖小于100nm(纳米)的纳米尖端，当纳米尖端由“金属固体”表面扫过时，
尖端接触“金属”表面会导电，利用导电的大小来控尖端随物体表面高低起伏而上下移动，可以量测“金属固体”(良导体)表面。

将尖端上下移动情形记录下来，并且利用电脑模拟物体表面三维高低起伏而绘出相对应的三维图形。

扫描穿遂显微镜(STM)的解析度与纳米尖端的尺寸有关，可以用来观察大约1nm(纳米)的结构，因此可以看到由电脑模拟的原子影像。

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