分析设备介绍-电子扫描型显微镜放大倍数：20～3000倍

EPMA电子探测X射线微量分析仪

用途： 可定性定量分析SEM图像上的化学元素及指定元素的毛刺发生可能性。
（放大倍数：40～3000倍）

SEM（电子扫描型显微镜）

用途： 从剖面观察角度来判断焊料合金的焊接状态（开裂、空洞、合金层），
焊料的表面观察以及元件的剥离情况等。
（放大倍数：20～3000倍）