显微镜观察石绵实验随机选择部分滤纸的视野

目前的一些量测技术中，例如石绵镜检方法，均假设气胶是均匀分佈于滤纸上。
因为石绵之显微镜镜检是裁切四分之一的滤纸，并随机选择这部分滤纸的视野进行分析。

然而在较近研究中已经证实，以等距离或同心圆等面积法，选取整张滤纸进行分析之準确度，
优于传统的石绵显微镜镜检法。加上目前已有滤纸采样均匀度之影像处理及统计方法之研究，

将这些研究结果可以整合，可进行可均匀采样之采样器或滤纸匣之研发。
现今的量测技术中，结晶型二氧化矽之采样分析也需假设气胶是均匀分佈于滤纸上，

尤其是的分析方法。一般较準确的分析方法是利用高阶精密度之X-光绕射法
（X-Ray diffraction spectrometer, XRD），配合银膜进行。但银膜、高阶XRD相当昂
贵，有待改进研究。近来有研究证实可利用分析方法，直接以可呼吸性采样
器所得之滤纸分析结晶型二氧化矽。其分析方法较为简便，但需假设气胶是均匀分佈于滤纸上

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