自动化检测散热片的细微缺陷-光路仪器与CCD搭配

本研究的动机，来自于CPU散热片制造商的需求，

主要分为二项需求；第一项是检测散热片上的各样式缺陷，这些缺陷会造成CPU散热不均匀分佈，
容易在缺陷处产生热应力造成CPU损坏；第二项是如何将检测系统用于生产线需求，就是自动化流程与检测速度。

在第一项需求中，必须先克服如何取得较清晰的检测影像，设计一套光路系统与CCD性能作搭配；再来需要克服，
低讯杂比缺陷影像的检测，这必须做影像高低频讯号分析与强化处理，再搭配一些影像处理方法；上述二种方法是为了解决第一项需求。

在第二项需求中，必须设计出可同时检测多片散热片的机构，须考虑到每个动件间运动空间与受力分佈，
为了避免产生干涉动作与应力集中造成机构形变；再来需要规划检测动作与控制系统的匹配，
其中控制系统包含线性模组、IO模组与取像模组…等，检测流程与控制系统匹配的方法，
必须透过程式多执行绪的方式达成，利用上述的方法来达成自动化流程；至于检测速度的提昇，
除了优化程式码还需要借助环境的调控与设定。

低对比度缺陷影像自动光学检测机台设计研发的方法与结果。

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