接触式和非接触式扫描电子显微镜简介-解析度高低

原子力显微镜的操作模式可分为

1. 接触式（contact mode）
此模式的探针和样品的作用力是原子间的排斥力，这是较早被发现出来的，
由于排斥力反应的距离约在数埃（angstrom，Å）之间，且对距离非常敏感，
所以可以得到很高的解析度。不过由于接触距离极接近于样品，过大的作用力会损害样品，由其是软性材质影响更
大，所以选择适当的作用力便很重要。

2. 非接触式（non-contact mode）
为了解决接触式原子力显微镜可能损坏样品的缺点，便有非接触式原子力显微镜发展出来，
这是利用探针和样品间长距离的吸引力－凡得瓦力来运作，其反应距离约在数十埃左右。由于探针和样品没有
接触，因此没有破坏样品的顾虑。但因凡得瓦尔力对距离的变化非常小，
所以必须使用振动及调变的技术（Vibration and Modulation Techniques）
来改善讯号对杂讯的比例（signal / noise），其解析度并无法像接触式原子力显微镜来得高

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