一般光学显微镜配合对焦寻形原理测量三维表面轮廓

利用一般光学显微镜配合对焦寻形（Shape from Focus，SFF）原理，并结合较小相邻反捲积
（nearestneighbor deconvolution，NND）技术即可重建出待测物的三维表面轮廓。
但在量测待测物过程中，若因待测物的表面资讯不足，

则会导致反射光讯号弱，造成讯噪比（Signal-to-Noise Ratio）差，则待测物的三维表面重建杂讯较多，
因此在撷取影像时，CCD 会重複撷取影像再取其平均值以改善讯噪比，由于这个重複撷取影像过程，
会使整体量测的时间增长，为了使量测时间缩短，

可选用较高讯噪比的 CCD摄影机，如此一来，就可兼顾讯噪比与整体系统量测的时间

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