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高解析电子显微镜能解析约0.1 nm-金属实验




来源:yiyi
时间:2013-7-30 20:31:28

高解析电子显微镜能解析约0.1 nm

高解析穿透式电子显微镜能解析约0.1 nm 原子级的晶体结构和缺陷。为了能够彻底了解这样
微小的结构,先考虑硅的单位晶胞的晶格常数大约为0.543 nm,
大约为高解析穿透式电子显微镜所能提供之分辨率的5 倍

扫描探针显微镜
• 扫描穿隧显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)。
• 原子尺寸的表面形貌图形 。
• 扫描穿隧显微镜是一个非常尖锐的尖角。
• 传统上是由金属,如钨、镍、铂-铟,或金来制造,较近发展也出了碳纳米管


穿透式电子显微镜
• 穿透式电子显微镜中的电子束是将钨丝的顶部加热后发散,
产生加速电压(通常是从100 到300 kV)
• 电磁线圈用于凝结电子束,然后穿透放于样品区的薄样。
• 晶体中原子排列的差异将导致电子散射

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