显微镜下量测金属显微影像晶粒尺寸的方法

晶粒尺度之测定方式

(a)晶粒尺度的测定方式有下列三种。
(1)              比较法。
(2)              截距法。
(3)              面积法

以上3种方法，一般常用比较法，观察由非等轴结晶粒所组成之材料则用截距法。
但测定结果仍有疑义时，以面积法来决定

(b)
以显微镜的影像或相片进行测定，其倍率以75倍为标准。为得更正确值时，
则大于0.200 mm的晶粒尺度用25倍，0.070 mm以上之粒度用50倍，
晶粒尺度愈小，测定倍数愈大