岩石结构矿物颗粒晶粒直径测量工具显微镜
组构分析的目的是查明岩石中晶体的方向:同一种矿物的许
多颗粒的方向测定出来之后，就可以统计性地得出亚组构赤平投
影图，根据一套这样的图解，就可以把组构测定出来。组构的对
称性与产生组构的变形作用的对称性有关系。
微观分析是指用上海光学仪器立体或岩相显微镜和光学显微镜
对所有可见的结构特征进行观察。因此，它主要研究毫米级的细节，
根据这些细节，可以描述矿物颗粒等级的岩石结构情况。
微观分析在传统上可分为结构研究和组构研究。
结构分析的目的在于查明矿物生长的方式及矿物结合的方
式，以便把结晶作用的历史重现出来。结构分析还应研究颗粒的
分布，因为它常常表现为与侵人过程有关的岩石定向结构。较
后，这种分析还可以把来源于岩浆结晶作用的物质与其他具有更
复杂历史的物质区分开来。因此，结构分析可用于确立每种岩石
形成的主要过程。
但是，在这个阶段，通过上海光学仪器一厂光学显微镜分析结构
区分两类亚组构。
一种矿物的颗粒可以在其结晶的晚期或在重结晶过程中定向，
以嵌晶或填隙形式(通常呈他形)出现，这个方向表示结晶网在各向
异性应力场(该应力场作用于已经形成的并且可能处在现有位置
上的深成岩)中的定向发育。与此相反，能用以确定深成作用的
亚组构乃是颗拉被岩浆流动所定向的记录，所以这些颗粒是早已
形成了的，往往呈自形，形成带状和常常连结成聚晶状
