使用偏光显微镜下观察砂岩的成岩-石英颗粒分析

    在偏光显微镜中观察砂岩的成岩作用，发现石英颗粒都紧密接触时，
对确定颗粒镶嵌的原因是由于次生加大引起的还是由于压实作用引起的
是有一定的困难的，

通过阴极发光显微镜来研究可以发现部分颗粒仍是紧密接触.而部分石英
颗粒周围出现了次生加大的现象.这说明原来颗粒是分散的.是由于次生加大
的原因使颗粒相接触紧密。这种次生加大的不均匀和颗粒接触的不均匀情况
在偏光显微镜下观察是较困难的.而在阴极发光显微镜下则可一目了然。

这显然是压溶作用的结果，溶解出来的硅质到有孔隙的地方就可以产生石英
的次生加大所以说压溶作用与石英的次生加大实际上是二氧化硅质的再分配。

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