透射电子显微镜的原理和构成及样品的制备
透射电子显微镜利用电子束波长较短且易于用电磁透镜聚焦的特点,可大大提高分辨率。但是,电子束不能穿透大块金属,所以透射电镜必须制成复型或以金属薄膜作为试样,其制样过程远较金相试样复杂。
两种试样都可观察显微组织,但是,金属薄膜试样还可应用选区电子衍射和衍衬等方法获得更多的信息,如晶体取向、晶体缺陷等。
1.透射电镜的构成 透射电镜的成像原理类似于金相显微镜,但二者的结构却截然不同透射电镜主要由下列几部分构成:电子枪、电磁透镜(双聚光镜、物镜、中间镜、投影镜)、样品室、观察屏(底片盒)。
2.金属薄膜的制备过程如下: (1)机械减薄预先将待检测的试样,用机械切成0.5mm左右的薄片,再在砂纸磨薄至100μm, (2)化学减薄可消除机械减薄产生的表面变形层。(3)电解减薄可获得表面光洁的合适薄膜。较后制成直径为3mm、厚度为100~300nm的金属薄膜。
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