上海光学仪器一厂偏光显微镜的原理
把光的偏振性质用于显微镜成像技术中即为偏光显微镜59XC,广泛应用于地质学研究中,利用晶体光学的原理和方法来研究矿物、岩石结构等。
透过光显微镜是利用透明样品本身以及它和四周介质之间的明暗差别和颜色差别来进行观察和测定,物体除明暗、颜色的差别外,还有均质与非均质的差别,非均质木身强弱的差别,光学厚度的差别等。
要想把这些差别在显微镜中变成人眼能观察到的明暗反差和颜色反差,必须采用不同的照明光源或其他方法。
偏光显微镜就是把样品放在起偏镜与检偏镜之间,起偏镜位于聚光镜下面,检偏镜位于物镜上面,两偏振镜的振动面互相垂直,视场是暗的。
当光线通过起偏镜后产生一平面偏振光,此偏振光通过样品时分成两束互相垂直的偏振光,由于它们速度不同,通过样品后产生一定的光程差到达检偏镜,而检偏镜只允许某一方向的振动通过,因此通过检偏镜后即变成具有一定光程差的同方向振动的两束光,由此发生干涉而形成干涉图像。
干涉图像受样品的光学性质、样品厚度、光波波长三个因素的影响,只要确定了后两个因素,即可凭干涉图像的不同确定样品的晶体性质。
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