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上海光学仪器一厂偏光显微镜59XC的原理及其特点




来源:yiyi
时间:2014-3-3 20:47:00

上海光学仪器一厂偏光显微镜的原理

    把光的偏振性质用于显微镜成像技术中即为偏光显微镜59XC,广泛应
用于地质学研究中,利用晶体光学的原理和方法来研究矿物、岩石结
构等。

    透过光显微镜是利用透明样品本身以及它和四周介质之间的明暗
差别和颜色差别来进行观察和测定,物体除明暗、颜色的差别外,还
有均质与非均质的差别,非均质木身强弱的差别,光学厚度的差别等。

    要想把这些差别在显微镜中变成人眼能观察到的明暗反差和颜色
反差,必须采用不同的照明光源或其他方法。

    偏光显微镜就是把样品放在起偏镜与检偏镜之间,起偏镜位于聚
光镜下面,检偏镜位于物镜上面,两偏振镜的振动面互相垂直,视场
是暗的。

    当光线通过起偏镜后产生一平面偏振光,此偏振光通过样品时分
成两束互相垂直的偏振光,由于它们速度不同,通过样品后产生一定
的光程差到达检偏镜,而检偏镜只允许某一方向的振动通过,因此通
过检偏镜后即变成具有一定光程差的同方向振动的两束光,由此发生
干涉而形成干涉图像。

    干涉图像受样品的光学性质、样品厚度、光波波长三个因素的影
响,只要确定了后两个因素,即可凭干涉图像的不同确定样品的晶体
性质。

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