一般包裹体的粒度常小于50μm-测量显微镜型号
在冷热台上的光学图像远比标准显微镜成像差。因此，测试之
前的包裹体研究工作是在标准显微镜下进行的，寻找到理想的包裹
体，确定包裹体的成因类型和捕获后是否变化，
估测包裹体的成分、盐度和近似的均一温度，大量的记录、素
描和摄像等工作在标准显微镜下进行更方便和效果更佳。认真细致
的进行这些工作将节省花费在测试实验上的大量时间，更重要的是
能捕获到更多的成岩成矿信息。
多数包裹体的粒度常常小于50μm(0.05mm) ，使用普通国产显
微镜时，通常放大250 倍后才容易找到包裹体，要详细观察包裹体
的内部细节，至少要放大到400 倍~500倍。高放大倍数对单个包裹
体的研究是必要的，
但也不应忽视低倍镜的使用。100 倍或更低的低倍系统能观察
到样品中更大视域内的情况，因此观察者首先应该使用低放大(x 100)
系统对整个片子进行粗略的浏览，
确定可能存在的包裹体位置。低倍(x 100) 镜下样品中平均粒
度10μm 左右的包裹体呈小黑点状以群体或呈枝蔓状定向分布，这
时把物镜换成较高的倍数，对准黑色斑点，同时提升物台下聚光镜
使其更接近样品，调整好焦距，包裹体就清晰可见了。
使用低倍镜对揭示包裹体生长带、颗粒边界和显微裂隙之间的
关系十分方便，这对确定包裹体的成因类型很有好处。因此包裹体
观察过程中经常是交替使用低放大倍数和高放大倍数系统。
