与AFM相比SEM电子显微镜是一种空间技术-3D表面重构
扫描电子显微镜（SEM ）具有突出的空间分辨率（-20 nm，与AFM
相比较，SEM 可以提供从纳米到毫米相对宽的分析结果）。利用较短
的波长（即高能量），可通过透射电子显微镜（TEM ）获得更高的分
辨率。SEM 是一种空间技术，因而采集时间长，其缺陷在于缺乏扫描
深度。但是，三维空间（（3D）效果可以通过电子一材料互动模式逆
向重建，即利用3D表面重构而获得。
在OPV 的研究中，SEM 通常被用于材料的形貌分析，从而优化OPV
效率 这与AFM 的应用领域有些类似。SEM 也可用于分析OIV
器件横截面。如果SEM 仪器装有聚焦离子束（FIB ）源，那么可以获
得更加直观的横截面，从而提高分析质量。
此外，SEM 仪器如果装有能量弥散X 射线探渊器（EDX ），有可
能获得更加深人的化学信息。
但是，这仅限于结合FIB 和EDX 的SEM 对OPV 器件的特性进行表
征的时候。EDX 探针长度大于器件的厚度，因此，EDX 的纵向分析使
得电极灵敏度有所提高。
正因为如此，EDX 是更适用于横截面分析的一种方法。FIB 源在
研究OPV 衰减过程中存在问题是，
具有高能量的离子束会导致OPV 电池中有机化合物的降解（例如，
形态改变），这样使得结果变得复杂，难以解释。但是，FIB 对OPV
电池的形响目前还尚未研究，所以在分析过程中，FIB 对OPV 的影响
程度还不能确定。在实验条件下，横截面分析可以监测OPV 电池处于
工作状态时叠层形态演变（例如中间层滋合）以及层厚度的增加/ 减
少等重要信息。
