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偏光显微镜可以用来测量矿物表面的折射率




来源:yiyi
时间:2014-8-21 17:46:05

偏光显微镜可以用来测量矿物表面的折射率

    细小的点的象看起来如被不明显的同心圆所包围的点子,同样,一
条棱边(或其它的明亮线条源)也具有与之平行趋向的暗淡线条(有时

    可能错误地解释为层状结构)。在棱或点子的旁边往往只看到第一
个强度极小值并在明亮的象周围产生黑带。由于倾斜区(例如氧化物台
阶)

    把光线反射到光学系统之外;由于反射表面高度上突变所引起的伪
贝克线;

    由于覆盖着反射表面的高折射系数透明层的厚度突变所引起的某种
类似真贝克线的东西,以及在氧化物和氮化物斜面上的干涉效应等都会
使图象出现象框。

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