测量显微镜的的光学设计常识和原理-光学仪器

干涉显微镜，它利用剪切法不但能作一般干涉测量和微分干涉观察，
而且还能对微小样品作干涉相位差测量，是一种应用范围很广的仪器。

    这里所说的利用剪切法作一般干涉测量是把两支光路过来的象，
完全分离并使它们产生干涉的方法测量微分干涉是利用分辩率以下的
剪切重叠干涉的方法.

    但是，在用剪切法进行各种干涉测量中，还有一种比完全分离的
剪切要小，而分辨率要大的中间状态下进行干涉的方法，称为差分干涉。
我们认为这种方法是非常有用的.

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