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应用的高分辨率电子显微镜观察金属氧铁中夹杂物




来源:yiyi
时间:2015-10-1 15:49:37

应用的高分辨率电子显微镜观察金属氧铁中夹杂物


    应用电子显微镜观察夹杂物目前用三种技术制备试样,
即分离的夹杂物。分离复型、薄膜。

    用这种分离复型的方法鉴定了铝胶氧铁中的夹杂物,
薄膜的直接观察,已广泛地用于一些氮化物和碳化物的研
究,同时,应用这三种技术得到的试样,还可以进行电子
衍射及x 射线衍射,用分离复型法,沉淀相颗粒直径<-0.1
微米用电子衍射能得到好的衍射图案,夹杂物为-1-25 微
米时,用x 射线衍射可以得到好的图案。

    用x 射线作夹杂物相的鉴定,目前系得到的衍射结果
与ASTM卡片进行对照查找,有时遇到相难于查对和出现新
相没的卡片时。

    另外,一新技术也已用于夹杂物的鉴定,例如扫描电
鉴定夹杂物的方法甚多,但是发展历史较长,应用较广。

    夹杂物在钢中生成有一定规律,这些规律又与一些表
观因素相联系,因此通过对这些表观因素的了解,就有可
能初步判断钢中所形成的夹杂物类别及所需了解的其他有
关问题,这些因素是?
  1、钢的化学成分
  2、冶炼炉型、炉衬和脱氧、浇注操作。
  3、锭型大小,取样部位和取样过程。
  4、其他处理——热处理、压力加工等。

    无序层形成和外延生长的高分辨率电子显微镜观察自
从高分辨率电子显微镜问世以来,人们才有可能对于级联
碰撞的无序相变化的晶格结构进行直接观察,这种观察对
于无序化和无序层外延生长模型给出了更直接和检验。

    为了避免注入杂质对晶体无序化和无序态外延生长的
影响,注入离子选用硅、衬底材料选用,向单晶硅,注入
能量是从冶金角度研究生成膜的品质。

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