显微镜下的检定试样表面条纹光折射,光学技术应用

显微镜法

  用这一方法只能观察试样的很小一部分，在显微镜下的表面图中
进行分析是十分困难的，要求丰富的经验，如果只检查一个表面，
必须将与它相对的表面磨平及抛光，测定可在明视场及暗视场或采
用一些明暗对比以加强对比加强反差的方法来进行，可以分辨出约
0.006mm大小的凹坑，气孔等。

  也可以用制成模印的方法在显微镜下代替“真正”的表面进行检
查，即在试样上涂上一层塑料膜，凝固后取下而成为模印。

  检查条纹的光学方法
  关于条纹的概念
  人们按照物理及化学的观点将条纹理解为本来是均一的物体中出
现的任何类型的微小非均一现象，由于有一系列的物性，如化学组
成、光折射、密度等都可作为物体均一性的判据，至今还提不出条
纹的准确定义，而是有各种各样的说法，玻璃中的非均一物几乎总
是由化学原因造成的，因而玻璃专业人员一般都以化学上的差异作
为条纹的主要特征。

  可是检定条纹一般不采用化学方法，即将试样损坏的方法，如用
氢氟酸或氢氧化钠以检查其耐侵蚀的性能之类，比较常用的是不损
坏试样的光学方法，这是根据化学的差别必然造成光学性质如折射
率的差别这一规律，除了少数例外，任何化学非均一物都会导致光
学上的不均一，通常用肉眼就可以看出由于条纹造成物像的歪扭现
象。