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    熔合物浇注的熔合物显微结构变化研究金相显微镜




    来源:yiyi
    时间:2015-12-14 13:12:22

    熔合物浇注的熔合物显微结构变化研究金相显微镜


        熔合物的研究采用金相X 射线分析和显微硬度测量的方法研究熔合物的相组成
    与结构X 射线系采用粉末照象法,镍靶,晶格参数测量的精确度为0.01% ,显微硬
    度是在型仪器上测定的,荷重50克。
        显微硬度的数值用以估计各个相组分与结构组分的硬度,以及用以测定熔合物
    的均化程度与确定单相区域的边界。
        试验熔合物的熔制是按上述条件于1600-1700 ℃下进行的,在较高温度时短时
    间保温。
        熔合物经过扩散退火,在TBB-2 型炉中氩气氛下1350℃退火48小时。
        当浇注的熔合物退火时末观察到显微结构有明显的变化。
        为了显露熔合物磨光片的显微结构,在20%KOH溶液中电解腐蚀。
        金相研究指出,碳含量在0.7%以下的熔合物是单相的,这个区域的熔合物为粗
    粒结构,如果注意到现熔融的纯硅以及单相区域的熔合物,当腐蚀时出现平行线的
    那种独特显微结构,显然这与硅的晶体结构的特征相联系的。
        碳含量高于0.8%的熔合物具有两相的结构;明亮的基底是碳地硅中的固溶体,
    暗色者是碳化硅。
        碳含量增加时碳化物相的数量随着增加,单相区域熔合物固溶体显微硬度随碳
    含量增加而显著上升,易从850-890 公斤/ 毫达到1225公斤毫米,在两相区域的范
    围内,碳含量在2-3%以下改变时,相的显微硬度实际上并不随之变化。
        碳化硅晶体的显微硬度的平均值为3180公斤/ 毫米。
        分布在相图区域内的熔合物的X 射线研究指出,有两个相存在,基于硅的相和
    基于碳化硅的相同,这两相的晶格参数末发现变化,因为得到的数据均在测量精确
    度的范围以内。
        金相与X 射线分析以及各个相的显微硬度测量结果。

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