试样表面检测金相分析图像显微镜制造厂商

    在试验过程中，经适当制备的试样表面可用金相技术进行分
析。这些技术主要包括用冶金方法制备试样表面，用光学显微
镜直接检验表面，或用电子显微镜检验所制备的表面复制品。

    一般在低倍率和中等倍率下可以着出，在静载荷下形成的滑
移线是鲜明的直线，它们均匀地分布在每个晶粒上。在高倍率下
可以看出，这些独立的线是具有不同高度的平行线滑移带。在循
环应力下产生的滑移线形成了滑移带，它们不一定一直延伸而通
过晶粒，随着试验的进行，在老的滑移线旁边形成了新的滑移
线，各滑移带之间的中间区显然没有滑移。

    发生破坏和开裂与表而晶粒有关，只有当表面晶粒中
形成的裂纹扩展而通过试样时，试样体内裂纹通过的那部分晶粒
才发生破坏。这意味着在疲劳试验中直接观察裂纹的扩展过程是
比较简单的。

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