颗粒度分析视频电子显微镜-颗粒图像分析软件
　　　　　　　　　　　　　　　　　　
    在任何分析中，关于颗粒的较佳测量数目都没有固定不
变的规定，这是因为其中存在一个过去很少被注意的统计学
问题，如果测量的颗粒数太少，就不能得到完全的方位型式，
而且作出的方位图会过分受可见的或不被观测者怀疑的显微
域的影响。相反，如果测量的颗粒数过多，就会不适当地占

用本该用于另一样本的时间。一般地说，对于石英光轴和云
母解理，测量400 到500 个颗粒是合适的；对于二轴晶矿物
的三个光率体轴或对于方解石光轴和伴生的双晶中解理面，
100 到200 个颗粒是较佳测量数目——特别是组构是均匀的，
横测线间距宽的情况下是如此。　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　
    显微亚组构与小型褶皱的几何关系是特别重要的，此间
的主要问题是，确定隐含在褶皱面中的构造不均匀性，是否
伴随有显微亚组构的相应不均匀性。在确定后者是否均匀，
必须要切自一个单褶皱不同域的一套定向薄片上，逐个薄片
地进行研究。

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