光切显微镜可以用来测量非常精细表面粗糙度 许多不同的技术是可用来测量表面粗糙度的,能检查表面横截面轮廓的手段有锥形横截法或光切显微镜,锥形横截法是用很小的角度来截取试样;光切显微镜是将狭缝的图象以45度入射角投射到表面上,用处于45度反射角位置上的显微镜的物镜来观测:如果表面是光滑的,则狭缝的图象是直的,若表面是粗糙的,则图象是起伏的。
光学 数字技术克服了许多与测量非常精细表面(用传统和非传统的方法)粗糙度有关的困难问题,所得到的结果不仅精确,便于比较,而且预示出较好的表面功能特性。因此,该粗糙度的评定与由工厂的仪器可能得到的局限的结果相对比是可用的、实际的、详尽的和全面的,而且还是一个非接触方法,不存在划伤表面的危险。
零件的表面粗糙度影响诸如摩擦、磨损和润滑等方面的功能特性,因此为了得到较佳的性能,必须控制由不同加工方法获得的表面粗糙度。要求有一种快速和有效的测量表面粗糙度的方法。
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