较粗糙的表面任意两点光学距离测量显微镜
全息照像干涉测量和普通干涉测量是有区别的。它能利用同
一个光路记录不同时刻的波前，这就能用由真实物体所得到的干
涉图与标准物体干涉图进行比较。此时，一般说来，对光学器件
的质量要求并不十分重要。因为即使光学零件不完善，两个干涉
波的变化程度仍是一样的。
较粗糙的表面，用全息照像干涉测量技术比较方便，只是在
全息图方向上要散射足够的光量。它不需要比较标准样件，就可
以进行任意的相对测量。例如，可以测量当表面变形或受压缩时
，
表面移动的情况。这时，原始的表面状况，可以用作较终表面状
况的标准样件
全息照像干涉测量技术可以在不同时间以真实比例进行两次
曝光。这样就可以同时见到物体变形的干涉图象的变化。实际上
的问题在于，在显影之后～定要把全息图放还到记录时的原始位
置上。
再现时，可同时照射全息图和物体。如果以原来的参考光波
照射全息图，使之精确地还原到原始状态，则所成的虚像不仅象
这个物体的精制复制品，而且能与空间的物体相重合，也有着与
物体相同性能的光散射袭面形状。为此，观察时必须使物体光束
和参考光束形成的干涉组织与记录在全息图上的组织重合，其精
确度要达到条纹间距离的十分之一以内。如果物体光束和参考光
束之间的角度小，这也是容易做到的。
如果物体受到变形，那么，由观察点到表面上任意点的光学
距离也起变化，这个距离是相当予标准样品表面(虚像表面)各
点的相对距离，由表面各点到照射两个表面的光源的距离也发生
变化。由同一部位上、但是从表面位移部位上散射的相干光束，
在由光源到观察平面的光路上，相应地得到了相对的相位移动。
由于相位的移动，以及由它引起的形成光波振幅的变化，产生了
干涉图象。这种图象可以表示物体表面变形的性质。
