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全能显微镜中具有双光学系统,用来观察不同的样品




来源:yiyi
时间:2015-7-24 14:32:00

全能显微镜中具有双光学系统,用来观察不同的样品

检定分划尺的补充设备由左、右两个支架组成,在两支架上各
固定一个检定仪类型的显微镜,支架则固定在机器的测量基座上。
支架都装有改正螺旋,改正螺旋可于不大的范围内在相互垂直的两
个方向上改变显微镜的倾斜度。左支架除有改正螺旋外,还有在水
平方向内移动显微镜的滑架。全套设备中还包括四个能上、下移动
的侧台,而这些侧台的顶面均可在垂直于机床导轨的方向上移动。

    为了测定显微镜零分划间的距离,在设备的整机内安置有因瓦
杆尺。
 
     当米或百毫米的分划的零分划和微口径测量器的镜筒分
划尺重合时,借助于位在侧台上的因瓦杆尺测定左、右显微镜零分
划间的距离(值得注意的是,要使显微镜垂直竖立且物镜都位在同
测定安在侧台上的被测量构件分划线间的距离。

    当取得整米分划、整百毫米分划和两个显微镜的诸读数之后
在全能显微镜上进行下列工作是方便的。校准测量长度用的插
轴和测量角度用的照准目标,检定时针式指示器,测定短水准尺分
划改正数与因瓦线尺分划改正数,检验测量的平面平行板,以及各
种分划尺的端点、螺旋线。在全能显微镜中。依被鉴定过的带有
0.001毫米级误差的玻璃分则尺来测定被测构件的变化。

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