土样制备,土的组构土的类型特征分析图像显微镜

  用于偏光显微镜研究的薄片厚度为30微米，因此这种扰动的影
响不大，对于x-射线衍射的研究，一微米的扰动深度，影响也不
大。
  干燥样品的破裂面有时也可以保持原组构状态，但破裂后需对
破裂表面轻轻地吹拂乾净或对表面作剥离处理，因为破裂的样品
表面可能有松动的颗粒，或者因为破裂面容易在样品薄弱部位通
过而不能代表样品的结构特征。

  透射电子显微镜需要300-500A超薄片进行观察，这种超薄片是
用切片机来制备的，切片过程中如遇到粗颗粒将样品的组构产生
扰动。

  土样制备的方法主要取决于所研究土的组构特征、观察方法、
土的类型、含水量和强度等因素，根据以上这些因素就可选择制
样的方法和预估这种方法对测定结果的影响程度。

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