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    铸造、轧制、锻造晶体结构样品金相显微镜




    来源:yiyi
    时间:2016-10-16 18:27:42

    铸造、轧制、锻造晶体结构样品金相显微镜

        材料中的单个晶粒的方向可能是随意的或者是沿着某一个特定
    的优先晶体学方向。在多晶体中晶体的结晶学方向的总数成为材料
    织构。织构可能在电沉积、铸造、轧制、锻造、挤压、拔丝和退火
    的过程中形成。特殊的织构类型和强度由材料(晶体结构、相分布
    和纯度等)和加工工艺决定。由于本书的很多部分都涉及金属带材
    铸造和进一步加工,如轧制、成型和热处理中织构生长,所以附录
    B中提供了理解和解释织构所需的信息。宏观方法包括X射线和中子
    衍射,微观方法包括利用EBSD和TEM纤维衍射实现扫描电镜或透射
    电镜中的电子衍射。经常应用的X射线技术结合背反射来产生极图
    ,通过一些极图的数学结合来获得更多详细的织构信息。这项技术
    的缺陷是由于X射线探测样品深度的限制(<0.1mm)导致的材料检测
    体积很小。而且,由于织构是大量晶体的平均值,这项技术对于研
    究显微织构也很受限制。

        电子背散射衍射(EBSD)
        背散射技术用于全面自动分析织构设备已经十几年了。对于大
    的样品它允许用晶体学数据建立一个显微框架,应用从SEM获得的E
    BSD花样进行自动计算机分析可以对试样中某个选定区域进行点到
    点的数据收集。一个典型的背散射装置如图B.l所示,它由一个敏
    感的摄像机、一个用于图案均匀和背景削减的成像系统组成。采集
    软件控制数据的采集、衍射花样的求解和数据的储存。

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