熟料中不同相组分定量分析显微图像显微镜制造
要获得熟料中不同相组分的粗略的定量估计，可采用各种不
同的积分显微台。薄片或磨片置于载物台上，载物台可借许多显
微螺旋中的一个沿特定方向移动。每一个组分配定用一个特定的
螺旋，并且要使能够跨过样品的边缘。试样用普通的方法观察，
载物台的移动须能使每一含螺旋在方格网上按照其所配定的组分
测定其全部交线。这样可得到组分的体积百分数。将这个方法用
于波特兰水泥熟料时，因为必须采用高的放大倍率，并且特别是
对于问充物质难以鉴别，所以会有很大困难。采用“点数计"系
统有许多优点。只要操纵～系列电钮中的一个，就可使载物台移
动一定的距离。每个电钮配定一种特定化合物，当方格网的横断
面积一经确定，立即按相应的电钮，载物台就自动地移动。在这
个方法中，在载物台上的重量要较螺旋法中少得多而试样则保持
在焦点上。并且除此之外，当移过可疑颗粒的边缘时，不会产生
重复测定，因此避免了回路测定的必要性。当然，确定化合物的
困难依然存在。
应用X一射线法来估计化合物的含量已引起人们大量的注
意。晶体物质的X一射线图形或衍射图是由不同强度的线条组成
的。含有两种或更多物质的混合物中，常常会由于不同化合物的
存在而发生某些线条(当然不是所有的线条)的重合。在晶体混
合物中，倘使某一种晶体的数量减少，则其图形的总强度也随着
减弱，直至较后达到即使较强的线条也观察不到。因此，，用x一
射线方法所能测出的混合物中某一晶体物质的较小含量，决定于
它的一些较强线条的强度和它们的位置与存在着的其他化合物线
条的位置相差的程度。通常的规则是属于高度对称的晶体系的晶
体物质，如立方晶体，具有比较少的线条但较清晰的图形，而低
对称性的晶体物质，则具有较弱的图形，但线条数目较多。高灵
敏度的X一射线分光仪能将表观上一根单一的强线分散成一系列
晶格间距相近的弱线条，因此而使X一射线分析复杂化。
