显微镜观测和测定样液中杂质微粒的大小和数量
显微镜计数法
目前,国内外测定样液中杂质微粒的大小和数量的方法有很
多种。然而,不外直接测定和间接测定两种。所谓间接测定是借
助于微孔滤膜过滤等辅助手段对样液中微粒子进行检测,显微镜
计数法就是其中一种。所谓直接测定是使用仪器对样液直接进行
测定,
原理和适用范围
源理将已知容积的样液在真空下通过印有方格的滤膜,用
显微镜观测滤膜采集到的杂质微粒的大小和数量。可以采用入射
光、透射光及投影屏进行观测。
特点可直接观测出杂质微粒的真实形状、大小及数量,精
度较高。仪器价格低廉,调试、标定,操作简单,对污染物有直
观感觉,有时还可通过观察微粒的颜色,大体判定微粒的化学成
分。测定结果的弭现性不受样液中的水珠、气泡等的影响,尤其
适于水基工作液的计数测定。印有格子的滤膜无需恒重,测定时
间较质量法短,但因样液需要过滤,所以比自动粒子计数法费时.
而扭测定精度常受测定者视力疲劳的影响。
适用范围适于杂质微粒不太多的机械产品,如液压系统中
的工作液;汽车减震器的工作液等。可用于对质量法测定结果进
行分析,此时可沿用质量法使用过的滤膜进行计数。
+ 当杂质微粒较多时,可适当稀释,采用本法对经稀释而且具
有代表性的样液进行计数。稀释的程度以能清晰观察微粒为度。
对于杂质微粒不多,而又不太小的(如大于15μm)可采用
投影法(在显微镜上装有投影屏)进行计数。