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    结构的精确测量-微观几何特征高分辨率显微镜




    来源:yiyi
    时间:2016-5-18 17:33:25

    结构的精确测量-微观几何特征高分辨率显微镜

     

    微观几何特征,

      在微米和亚微米范围内对结构的精确测量变得越来越重要。因为
    无限的小型化,对于产品的分辨率和微电子与微观结构的度量是很重
    要的,对于微粒尺寸分布的测量也很重要,例如,在环境保护中的应
    用。大量的测量方法适用于完成这些任务,它由传统光学显微镜范围
    延伸到紫外线范围。通过电子显微镜到高分辨率近场显微镜方式,例
    如,原子力显微镜。

      光学显微镜包括普通的明暗场显微镜,共焦显微镜,在可见光谱
    和紫外线范围内的干涉显微镜。作为非微观的附加特征,物体的远场
    衍射成像能被估算出。对于照射在物体上的放射光线的互相影响的基
    本研究和理论模型,都是对这些方法的额外的帮助。非光学的高分辨
    率显微镜测量方法[扫描电子显微镜(SME),原子力显微镜(AFM)等]普
    遍应用于检查和评估微观几何构造。这些是光学显微镜方法所不能解
    决的,作为对光学测量方法的补充。在对用于物体结构的扫描探针和
    显微镜系统特定扩张之间的互相作用做进一步研究之后.例如,附加
    精密长度测量系统,高分辨率显微镜方法也用于校正。目前为止,这
    种方法还不太可能,因为光学方法原理在能够实现的分辨率方面还受
    限制。

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