表征复合材料界面力调制显微镜成像技术简介
力调制显微镜
原子力显微镜成像的扩充包括力调制显微镜(FMM)样品机械属性的特征。与侧力显微镜、磁力显微镜一样,力调制显微镜允许同时获得外形和原材料属性的数据。 在力调制显微镜模式中,原子力显微镜探针顶端与样品接触扫描,并且Z轴反馈回路保持悬臂偏转为一常数(如原子力显微镜中的定力模式),另外,一个周期性的信号加在探针上或加在样品上。悬臂调制振幅的结果取决于根据样品
根据样品表面的机械属性悬臂振动的振幅变化 当探针与样品接触时,表面会阻止振动和悬臂的弯曲,在同样的作用力下,硬的区域比软的区域损坏样品表面小,也就是,硬的表面对垂直振动产生很大的阻力,并随后造成悬臂弯曲。由悬臂调制振幅的变化,此系统产生力调制成像,这是样品弹性属性的图像。应用信号频率为几百千赫大小,其比z轴反馈回路追踪的信号频率要快。外形信息能够从样品弹性特性的局部变动中分离出来,并且两种类型的图像可同时获得。
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