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显微镜观测分析铁谱片上的特征微粒-光学仪器




来源:yiyi
时间:2017-5-19 17:07:15

显微镜观测分析铁谱片上的特征微粒-光学仪器

 

显微镜观测分析

  (1)取下显微镜罩子,打开铁谱三目双光显微镜的电源开关。

  (2)调节显微镜:将透射光(在显微镜底部)调到较大,将反射光调
节手柄(在电源变压器上)调到5 V。

  (3)用脱脂棉擦拭干净载玻片,将铁谱片放在载玻片上。

  (4)将10X物镜对准铁谱片u形槽入口。

  (5)通过目镜观察,调节视场,从左向右逐次寻找特征微粒(清晰度
调节手柄在显微镜立柱上,左右前后位置调节手柄在载物台的下方)。

  (6)根据观测的需要,可以将物镜替换为20X,40×,特殊情况下使
用100×。

  (7)用相机将有保存价值的视场拍摄下来,作为资料保管或检测报
告的附件。将相机固定在显微镜相机接口上,打开显微镜上方摄像目的
镜盖,将显微镜相机接口固定在显微镜上方摄像目孔处,打开相机电源
,调节铁谱片在视场中的位置即可在相机上观察到铁谱片上的微粒,需
要保留时直接按动快门即可。

  (8)显微镜的左目是观察目,主要用于观察,右目是测量目,上有
刻度,可以计算微粒大小的尺寸,尺寸读取方法是:微粒某方向尺寸(
岬)=(单位值/每小格)×在此方向上的小格数。由于目镜上还有10倍放
大,故观察到的微粒是实际微粒的物镜放大倍数X目镜放大倍数,放入
计算机后更是可以任意放大或缩小。

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