不同晶体碎屑与浸油折射率样品分析显微镜
用斜照法无需用高倍物镜，在低倍镜下视域范围较广，可同时比
较多粒碎屑甚至不同晶体碎屑与浸油折射率的高低，但斜照法不能精
确测定晶体的折射率，只有在二者折射率相差较大时可较快地判别两
者折射率的相对大小。
浸油的相对折射率
直照法又称为贝克线法。在单偏光下两介质交界处将形成贝克线
，根据升降显微镜镜筒时贝克线的移动情况即可判别两介质相对折射
率高低，故称直照法。
多维缺陷
堆积缺陷、晶界和相界属于多维晶格缺陷。作为晶体堆积纷乱的堆
积缺陷，显而易见，一般是与层错共存的。当然，堆积缺陷妨碍了位
错的移动。SiC特别会在大范围内出现堆积缺陷，并导致形成多种聚合
形式。晶界分为小角度晶界和大角度晶界。前者就是由规律性的阶梯
位错和螺旋位错组成的平
色散法的原理
色散法全称为贝克线色散法，是直照法的延伸和发展。在晶体与
浸油的折射率相差小于o．01并用白光照射时，两者交界处的贝克线由
于固态物质和液态物质具有不同色散率将色散，分为互相平行的天蓝
色带和橙黄色带(这两种颜色是贝克线色散的敏感色)。一般固态物质
色散率比液态物质小，因此晶体的色散率曲线较平缓，浸油的色散率
曲线就比较陡，当二者对某单色光折射率相等时，两条曲线就相交于
折射率相等处。晶体折射率通常是以黄色光折射率为准的，有下列三
种情况。
